一、過程控制的觀念

1.SPC的起源，錯(cuò)誤認(rèn)識解析

2. 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型

3.過程中存在的變差（差異）

4. 過程控制與過程能力

5. 局部措施與系統(tǒng)措施

6. 持續(xù)改進(jìn)過程循環(huán)

二、SPC統(tǒng)計(jì)基礎(chǔ)

1．現(xiàn)代質(zhì)量管理學(xué)的統(tǒng)計(jì)觀點(diǎn)

2. 概率與隨機(jī)現(xiàn)象

3. 計(jì)量型數(shù)據(jù)和計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)

4. 總體與樣本

5. 統(tǒng)計(jì)量：均值、方差、標(biāo)準(zhǔn)差

6. 正態(tài)分布——品管核心統(tǒng)計(jì)理論

7. 用正態(tài)分布展示和評價(jià)過程

8. 過程的位置和分布（離散度）

9. 中心極限定理

10. 3σ質(zhì)量與6σ質(zhì)量

11. 六西格瑪（6σ）定義

12. PPM-西格瑪Z數(shù)-CPK質(zhì)量度量換算

三、變異知識

1. 變異與波動

2. 質(zhì)量波動的因素分類--- 5M1E

3. 特殊原因和共同原因

4. 統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)

5. 局部問題和系統(tǒng)改進(jìn)

6. 波動、過程控制和過程能力

四、控制圖原理

1. 控制圖樣式

2. 兩類錯(cuò)誤

3. 休華特“3σ原則”

4. 分析用控制圖和控制用控制圖

5. 常規(guī)控制圖的分類

6. 統(tǒng)計(jì)過程控制原則

7. 控制圖 8條判異準(zhǔn)則

8. 如何選擇控制圖

五、控制圖數(shù)據(jù)采集

1. 為什么要收集數(shù)據(jù)

2. 數(shù)據(jù)收集計(jì)劃

3. 如何確定控制項(xiàng)目--關(guān)鍵質(zhì)量特性

4. 控制圖數(shù)據(jù)規(guī)模

5. 采集控制圖數(shù)據(jù)的步驟

6. 休華特的“合理子組原則”

7. 數(shù)據(jù)的分層問題

8. 控制圖數(shù)據(jù)的時(shí)間序列特性

9.直方圖數(shù)據(jù)不能做控制圖

六、計(jì)量型控制圖

1. 分步詳解Xbar-R圖 （均值-極差）的做法和應(yīng)用實(shí)例、演練

2. 分步詳解Xbar-s 圖 （均值-標(biāo)準(zhǔn)差）的做法和應(yīng)用實(shí)例、演練

3. 分步詳解中位數(shù)- R圖 （中位數(shù)-極差）的做法和應(yīng)用實(shí)例、演練

4. 分步詳解X－MR 圖 （單值-移動極差）的做法和應(yīng)用實(shí)例、演練

七、計(jì)數(shù)型控制圖

1. 分步詳解P 圖 （不合格品率）的做法和應(yīng)用實(shí)例、演練

2. 分步詳解np圖 （不合格品數(shù)）的做法和應(yīng)用實(shí)例、演練

3. 分步詳解c 圖 （缺陷數(shù)）的做法和應(yīng)用實(shí)例、演練

4. 分步詳解u 圖 （單位缺陷數(shù)）的做法和應(yīng)用實(shí)例、演練

八、過程能力研究

1. 過程能力研究的目的

2. 過程能力研究的步驟

3. 過程能力的概念

4. 過程能力指數(shù)CP和CPK

5. 過程績效指數(shù)PP和PPK

6. 過程不合格品率的計(jì)算

九、控制圖使用及策略

1. 控制圖運(yùn)用流程

2. 控制圖界限的確定與發(fā)布

3. 控制圖的記錄

4. 對異常點(diǎn)的處置

5. 不要混淆控制界限和規(guī)格界限

6. 過程中心偏離目標(biāo)的調(diào)整策略

7. 控制界限的重新計(jì)算問題

8. 用控制圖確認(rèn)改善效果

十、異常分析與處置

1. 何謂異常

2. 異常分析的概念

3. 異常分析的思考步驟

4. 異常分析正確的態(tài)度

5. 異常處置

十一、案例分析與研討、點(diǎn)評